precision measurement systems — since 1962

ミクロン以下で、
ものづくりの
基準をつくる。

三次元測定機、レーザー変位計、画像測定システム。図面の公差を「測れる事実」に変える計測機器を、設計から校正まで一貫して手がけています。

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±0.5μm保証測定精度
(三次元測定機)
12,400国内外の
出荷実績(台)
1962創業
(昭和37年)
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事業領域

測る・見る・記録する。製造現場の品質保証を、3つの計測領域で支えます。

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三次元測定機(CMM)

接触・非接触プローブで形状を座標化。据置型からインライン型まで、公差検査を自動化します。

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レーザー変位計

ナノメートル分解能で段差・厚み・振動を非接触測定。生産ラインの全数検査に。

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画像測定システム

テレセントリック光学系で微細形状を一括計測。目視検査を数値の記録に置き換えます。

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校正・受託測定サービス

JCSS 校正事業者として、トレーサビリティの取れた校正と受託測定を提供します。

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精度への姿勢

「だいたい」を許さない。恒温室での組立・校正と、出荷全台の実測記録で、カタログ値を保証値にします。

最小測定分解能レーザー変位計 LKシリーズ0.01μm
保証測定精度三次元測定機 MXシリーズ±0.5μm
恒温組立・校正室通年管理20.0 ±0.5℃
出荷時 全台実測記録検査成績書を添付100%
推奨校正周期使用環境により調整12ヶ月
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導入業種

公差の厳しい現場ほど、計測が効きます。国内外 900 社超に導入されています。

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会社概要・認証

商号
メトリカ計測器株式会社(Metrica Instruments, Inc.)
創業
1962 年(昭和 37 年)
所在地
長野県諏訪市(本社・恒温計測棟)/東京・名古屋・大阪
従業員数
340 名(2026 年 4 月現在)
認証
ISO 9001 / ISO/IEC 17025(JCSS 校正)/ ISO 14001
事業内容
精密測定機器の開発・製造・販売、校正・受託測定サービス
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測定の相談から、
導入・校正まで。

用途と公差をお聞かせください。最適な計測機器の選定と、精度検証のデモをご用意します。